新聞詳情
怎么解決影響涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量值的因素
日期：2024-09-20 12:41
瀏覽次數(shù)：336
摘要：
影響涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量值的因素及解決方案
涂鍍層測(cè)厚儀與其他儀器一樣，使用涂層測(cè)厚儀需要儀器性能和測(cè)試條件。 使用磁原理和渦流原理的涂層測(cè)厚儀是基于被測(cè)基材的電磁特性和與探針的距離來(lái)測(cè)量涂層厚度。 因此，必須影響被測(cè)基板的電磁物理特性和物理尺寸。磁通量和渦流的大小。 這影響了測(cè)量值的可靠性，將介紹以下問(wèn)題。
1.邊界距離如果探頭與被測(cè)物體的邊界，孔眼，空腔和其他橫截面之間的距離小于指定的邊界間隙，則測(cè)量誤差將由磁通量不足或渦流載流子橫截面引起 。 如果此時(shí)需要測(cè)量涂層厚度，則只能通過(guò)在相同條件下預(yù)先在未涂層表面上對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行測(cè)量。 （注：*新產(chǎn)品通過(guò)疊加校準(zhǔn)具有獨(dú)特的功能，可以達(dá)到3％到10％的精度）
2.在直線比較樣品上將基材的表面曲率校準(zhǔn)為初始值，然后在測(cè)量涂層厚度后減去初始值。 或參考下一篇文章。
3.賤金屬的*小厚度賤金屬必須具有給定的*小厚度，以便探頭的電磁場(chǎng)可以完全包含在賤金屬中。 *小厚度與測(cè)量設(shè)備的性能以及金屬基底的特性有關(guān)。 進(jìn)行測(cè)量而不校正測(cè)量值。 對(duì)于襯底厚度不足的影響，可以采取措施將相同材料的一塊緊密粘附在襯底下面以消除它。 如果難以確定或無(wú)法添加基材，則可以通過(guò)與已知涂層厚度的樣品進(jìn)行比較來(lái)確定與額定值的差。 并在測(cè)量中考慮到這一點(diǎn)，并對(duì)測(cè)量值進(jìn)行相應(yīng)的校正或參考第2條進(jìn)行校正。 那些可以校準(zhǔn)的儀器可以通過(guò)調(diào)節(jié)旋鈕或按鈕來(lái)獲得準(zhǔn)確的直接讀數(shù)厚度值。 相反，如上所述，可以利用厚度過(guò)小的影響來(lái)開(kāi)發(fā)用于直接測(cè)量銅箔的厚度的厚度計(jì)。
4.表面粗糙度和表面清潔度為了在粗糙表面上獲得代表性的平均測(cè)量值，需要進(jìn)行多次測(cè)量。 顯然，基材或涂層越粗糙，測(cè)量的可靠性就越差。 為了獲得可靠的數(shù)據(jù)，基底的平均粗糙度Ra應(yīng)小于涂層厚度的5％。 表面雜質(zhì)應(yīng)去除。 一些儀器具有消除這些“飛點(diǎn)”的上限和下限。
5.涂層材料中的鐵磁和導(dǎo)電成分涂層中某些鐵磁成分（例如顏料）的存在會(huì)影響測(cè)量值。 在這種情況下，用于校準(zhǔn)的比較樣品涂層應(yīng)具有與測(cè)試對(duì)象涂層相同的電磁性能，并應(yīng)在校準(zhǔn)后使用。 使用的方法可以是在鋁或銅板樣品上施加相同的涂層，并通過(guò)渦流法測(cè)試后獲得比較標(biāo)準(zhǔn)樣品。